Аннотация

В первой книги монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твёрдым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отражённых электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.

Впечатления о книге:  

Прочитавшие эту книги читали: